روش های غیر مخرب طیف سنجی در شناسایی و اندازه گیری کمی مایکوتوکسین های مختلف در پسته

الموضوعات : شیمی کوانتومی و اسپکتروسکوپی

روح الله کرمی اسبو ¹ (موسسه تحقیقات گیاه پزشکی کشور، سازمان تحقیقات و آموزش و ترویج کشاورزی)
فهیمه فریدشایگان ² (دانشگاه آزاد واحد علوم تحقیقات)

تاريخ الإرسال : 20 السبت , محرم, 1443 تاريخ التأكيد : 03 الإثنين , ربيع الثاني, 1443 تاريخ الإصدار : 15 الإثنين , محرم, 1443

الکلمات المفتاحية: آفلاتوکسین, رامان تقویت شده سطحی, محصولات غذایی,

ملخص المقالة :

مساله آلودگی پسته به آفلاتوکسین یکی از مسائل مهم تحقیقاتی و یکی از معضلات ملی و منطقه ای این محصول با ارزش می باشد و همواره کشورهای صادر کننده پسته در راستای رقابت در بازار بین المللی از این حربه علیه پسته ایران استفاده نموده اند . بسیاری از محصولات کشاورزی ازآلودگی آفلاتوکسین در معرض خطر هستند و به دلیل خطرات بهداشتی مقادیر مجاز آن را در مواد غذایی تعیین کرده اند. بنابراین در کشاورزی به کنترل کننده ها یا پردازنده های محصولات، که سریع و ارزان هستند، نیاز داریم. وجود قارچ و تغذیه هاگ ها باعث رشد آنها و تولید سم بیشتر در محصول می شود. هدف از این تحقیق، مروری بر استفاده از روش طیف سنجی (رامان تقویت شده سطحی SERSیا FTIR) برای تشخیص نوع و میزان غلظت آفلاتوکسین پسته با استفاده از یک روش ساده و استخراج سریع یک مرحله ای برای کشف و امکان پیاده سازی روش برای تجزیه و تحلیل در محل می باشد. پیشنهاد روش SERS می تواند به عنوان ابزاری قدرتمند برای تولید قدرت مفید برای تجزیه و تحلیل با دقت و راحتی زیادی برای تشخیص آفلاتوکسین در بسیاری از نقاط نمونه مورد نیاز تجزیه و تحلیل سریع، باشد.